全內(nèi)角反射熒光顯微鏡（total internal reflection fluorescence microscope，TIRFM），利用光線(xiàn)全反射后在介質(zhì)另一面產(chǎn)生衰逝波的特性，激發(fā)熒光分子以觀(guān)察熒光標(biāo)定樣品的極薄區(qū)域，觀(guān)測(cè)的動(dòng)態(tài)范圍通常在200 nm以下。因?yàn)榧ぐl(fā)光呈指數(shù)衰減的特性，只有極靠近全反射面的樣本區(qū)域會(huì)產(chǎn)生熒光反射，大大降低了背景光噪聲干擾觀(guān)測(cè)標(biāo)的，故此項(xiàng)技術(shù)廣泛應(yīng)用于細(xì)胞表面物質(zhì)的動(dòng)態(tài)觀(guān)察。